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アイテム
超精密光学平面の平面度の測定
https://kougei.repo.nii.ac.jp/records/35
https://kougei.repo.nii.ac.jp/records/35b429a779-7930-467b-a740-e55680db44c0
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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![]() |
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Item type | [ELS]紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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公開日 | 2017-04-21 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 超精密光学平面の平面度の測定 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Accurate Testing Methods of Optical Plates | |||||
言語 | en | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
雑誌書誌ID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN00159741 | |||||
論文名よみ | ||||||
タイトル | チョウセイミツコウガクヘイメン ノ ヘイメンド ノ ソクテイ | |||||
著者 |
伊藤, 進一
× 伊藤, 進一× ITO, Shin-ichi |
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著者所属(日) | ||||||
東京工芸大学工学部写真工学科 | ||||||
記事種別(日) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 論文 | |||||
記事種別(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | Article | |||||
抄録(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | Two types of testing methods of accurate optical Plates are proposed and experimentally examined. They are developed in connection with Fabry-Perot etalons which are used as a monochrometer in Brillouin scattering experiment. Parallelism and relative flatness of etalons are defined so that they are independent quantities each other. The first method proposed is a PhotograPhic testing one with a multilens and it is shown that this system can determine the relative flatness to an accuracy of about λ/1000, here λ=6328A. The second method is a pressure scanning and photoelectrc detection method using a multilens and a microcomputer. The accuracy obtained by this system is higher than the accuracy obtained by the photographic method. | |||||
書誌情報 |
東京工芸大学工学部紀要 en : The Academic Reports, the Faculty of Engineering, Tokyo Polytechnic University 巻 4, 号 1, p. 18-23, 発行日 1981 |
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表示順 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 5 | |||||
アクセション番号 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | KJ00001511875 | |||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 03876055 |