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  1. 紀要
  2. 東京工芸大学工学部紀要
  3. Vol.22
  4. No.1

Chiral Recognition in the Inclusion Complex of Cyclodextrins with N-Dansyl-Phenylalanine Observed by Linked Scan FAB-MS Spectrometry

https://kougei.repo.nii.ac.jp/records/329
https://kougei.repo.nii.ac.jp/records/329
f840dd77-44b5-4ac0-b32e-980213b84802
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00001512088.pdf KJ00001512088.pdf (321.9 kB)
Item type [ELS]紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2017-04-21
タイトル
タイトル Chiral Recognition in the Inclusion Complex of Cyclodextrins with N-Dansyl-Phenylalanine Observed by Linked Scan FAB-MS Spectrometry
言語 en
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
雑誌書誌ID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00159741
論文名よみ
タイトル Chiral Recognition in the Inclusion Complex of Cyclodextrins with N-Dansyl-Phenylalanine Observed by Linked Scan FAB-MS Spectrometry
著者 服部, 憲治郎

× 服部, 憲治郎

WEKO 180

服部, 憲治郎

ja-Kana ハットリ, ケンジロウ

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MOTOOKA, Seiji

× MOTOOKA, Seiji

WEKO 3273

MOTOOKA, Seiji

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高橋, 圭子

× 高橋, 圭子

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高橋, 圭子

ja-Kana タカハシ, ケイコ

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HATTORI, Kenjiro

× HATTORI, Kenjiro

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MOTOOKA, Seiji

× MOTOOKA, Seiji

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en MOTOOKA, Seiji

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TAKAHASHI, Keiko

× TAKAHASHI, Keiko

WEKO 879

en TAKAHASHI, Keiko

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著者所属(英)
en
Department of Applied Chemistry, Faculty of Engineering, Tokyo Institute of Polytechnics
著者所属(英)
en
Graduate School, Tokyo Institute of Polytechnics (TOYOBO Engineering, Co,. Ltd.)
著者所属(英)
en
Department of Applied Chemisty, Facnlty ot Engineering, Tokyo Institute of Polytechnics
記事種別(日)
内容記述タイプ Other
内容記述 論文
記事種別(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Article
抄録(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 The cyclodextrin (CD) inclusion complex showed a chiral recognition observed by linked scan FAB-MS. The ratio, R, of the daughter ionic peak strength to the precursor ionic peak strength using the linked scan FAB-MS method was suggested to express a parameter for the stability of CD inclusion complex. The ratios between R_D and R_L were determined in inclusion complexes consisted of D-and L-N-dansyl-phenylalanines with various CDs. As for this parameter R derived from the linked scan FAB-MS ionic peaks, the wide application is possible to the inclusion complexes and the evaluation of the chiral recognition in various inclusion complexes.
書誌情報 東京工芸大学工学部紀要
en : The Academic Reports, the Faculty of Engineering, Tokyo Polytechnic University

巻 22, 号 1, p. 39-43, 発行日 1999
表示順
内容記述タイプ Other
内容記述 7
アクセション番号
内容記述タイプ Other
内容記述 KJ00001512088
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 03876055
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Ver.1 2023-06-20 13:44:44.414869
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