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アイテム
低光子エネルギー及び低光電流における半導体薄膜のCPM特性測定装置
https://kougei.repo.nii.ac.jp/records/228
https://kougei.repo.nii.ac.jp/records/228b590e218-32b7-493c-82ee-8dc80e425806
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KJ00001512003.pdf (717.3 kB)
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| Item type | [ELS]紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2017-04-21 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 低光子エネルギー及び低光電流における半導体薄膜のCPM特性測定装置 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | CPM System for Characterization of Semiconductor Films at Low Photocurrent and Low Photon Energy | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 雑誌書誌ID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AN00159741 | |||||
| 論文名よみ | ||||||
| タイトル | テイコウシエネルギー オヨビ テイコウデンリュウ ニオケル ハンドウタイハクマク ノ CPMトクセイ ソクテイソウチ | |||||
| 著者 |
盛, 偉秋
× 盛, 偉秋× 西川, 泰央× 鈴木, 英佐× 青木, 彪× SHENG, Wei-Qiu× NISHIKAWA, Yasuo× SUZUKI, Eisuke× AOKI, Takeshi |
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| 著者所属(日) | ||||||
| 東京工芸大学工学部大学院電子工学科 | ||||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 東京工芸大学工学部電子工学科 | ||||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 東京工芸大学工学部電子工学科 | ||||||
| 著者所属(日) | ||||||
| 東京工芸大学工学部電子工学科 | ||||||
| 記事種別(日) | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 論文 | |||||
| 記事種別(英) | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | Article | |||||
| 抄録(英) | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | A constant photocurrent method (CPM) system is developed for characterization of narrow-gap semiconductor films such as hydrogenated amorphous germanium (a-Ge : H), in which optical absorption spectra extend to low photon energy and photocurrent is significantly low in S/N (signal to noise ratio). Sufficient care is taken to enhance light intensity at the low photon energy in an optical system. The whole system is controlled by a personal computer to detect the low photocurrent using large time-constant integration. An empirical relation between lamp voltage and photocurrent at a fixed wavelength is adopted to reduce a measuring time. It is claimed that a photoresponse of pyroelectric detector should be flat in wavelength in order to obtain accurate CPM spectra. Preliminary results for a-Ge : H are also described. | |||||
| 書誌情報 |
東京工芸大学工学部紀要 en : The Academic Reports, the Faculty of Engineering, Tokyo Polytechnic University 巻 16, 号 1, p. 120-129, 発行日 1993 |
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| 表示順 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 12 | |||||
| アクセション番号 | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | KJ00001512003 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 03876055 | |||||
