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  1. 紀要
  2. 東京工芸大学工学部紀要
  3. Vol.43
  4. No.1(6月公開)

複プリズムを用いた共通光路位相シフト干渉顕微鏡の高精度化の研究

https://kougei.repo.nii.ac.jp/records/2090
https://kougei.repo.nii.ac.jp/records/2090
1ef1ee40-7808-47cd-abe5-011e5b69db2c
名前 / ファイル ライセンス アクション
vol43-1-06.pdf vol43-1-06 (2.5 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2020-06-30
タイトル
タイトル 複プリズムを用いた共通光路位相シフト干渉顕微鏡の高精度化の研究
タイトル
タイトル Improvement of the phase measurement accuracy of common-path phase-shifting interference microscope using a Fresnel biprism
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 干渉顕微鏡
キーワード
主題Scheme Other
主題 位相物体
キーワード
主題Scheme Other
主題 位相シフト干渉法
キーワード
主題Scheme Other
主題 高精度定量位相計測
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 Improvement of the phase measurement accuracy of common-path phase-shifting interference microscope with a Fresnel biprism
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 陳, 軍

× 陳, 軍

WEKO 3555

陳, 軍

ja-Kana チン, グン

Search repository
Chen, Jun

× Chen, Jun

WEKO 3556

en Chen, Jun

Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 光導波路や活きた生物細胞の高精度定量計測のために、我々は複プリズムやウォラストンプリズムの横移動を用いた共通光路位相シフト干渉顕微鏡を開発してきた。この方法では、交通光路の構造から、除振台なしでの干渉計測が可能や、非常に高い位相計測の安定性と再現性をゆする。本研究では、このような特徴を活かし、システム誤差や位相シフト誤差の低減法を提案し、サブナノの位相計測再現性を実現した。
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Several techniques are presented for improving the phase measurement accuracy of the common-path phase-shifting interference microscope. Experimental results for elimination of the system phase error using a subtraction procedure is shown. The residual RMS phase error smaller as λ/1000 corresponding to 0.6nm was achieved. Experimental results for measuring the refractive index distribution of polarization-maintaining optical fibers are presented to demonstrate the usefulness of the method.
書誌情報 東京工芸大学工学部紀要
en : The Academic Reports, the Faculty of Engineering, Tokyo Polytechnic University

巻 43, 号 1, p. 25-28, 発行日 2020-06-30
出版者
出版者 東京工芸大学工学部
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 03876055
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Ver.1 2023-06-20 13:37:36.928630
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